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干法激光粒度儀在顆粒測(cè)量中的應(yīng)用及注意事項(xiàng)
2023-07-20

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,干法激光粒度儀作為一種先進(jìn)的測(cè)量設(shè)備,在顆粒物料大小分析中扮演著重要角色。本文將探討激光粒度儀在實(shí)際應(yīng)用中的使用方法以及需要注意的事項(xiàng)。首先,我們來(lái)了解一下激光粒度儀的原理和工作方式。該設(shè)備通過(guò)利用強(qiáng)聚焦、窄束徑向散...

  • 2013-06-24

    BT-1600圖像顆粒分析系統(tǒng)測(cè)試原理:通過(guò)對(duì)顆粒數(shù)量和每個(gè)顆粒所包含的像素?cái)?shù)量的統(tǒng)計(jì),計(jì)算出每個(gè)顆粒的等圓面積和等球體積,從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長(zhǎng)徑比等,再對(duì)所有的顆粒進(jìn)行統(tǒng)計(jì),從而得到粒度分布等信息。適用領(lǐng)域:1.研磨材料:金剛石、碳化硅、碳化硼、白剛玉、氧化鈰等。2.電池材料:球形石墨、鈷酸鋰等。3.用于驗(yàn)證其他粒度測(cè)試的手段和方法。指標(biāo)與性能:1.測(cè)試范圍:1-3000微米。2.zui大放大倍數(shù):4000倍。3.zui大分辨率:0.1微米。4.重...

  • 2013-06-24

    BT-2002D干法激光粒度儀基本特點(diǎn):1.干法進(jìn)樣分散系統(tǒng)中,進(jìn)樣、進(jìn)氣、測(cè)試、收集等操作均由電腦統(tǒng)一控制,按事先設(shè)定好的程序自動(dòng)完成,操作簡(jiǎn)便。2.采用*設(shè)計(jì)的干法分散系統(tǒng),通過(guò)剪切、慣性、碰撞等方法保證粉體在通過(guò)測(cè)量窗口時(shí)處于充分分散狀態(tài)。3.采用無(wú)油靜音空氣壓縮機(jī),配以濾水器,保證產(chǎn)生純凈壓縮空氣的同時(shí),還具有噪音小、自行啟動(dòng)、自動(dòng)停車、運(yùn)行時(shí)間長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。4.*設(shè)計(jì)的具有76個(gè)接收器的光接收器陣列,并配備精密自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng),全程采用米氏散射理論數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,使儀器分...

  • 2013-05-16

    粉體綜合特性測(cè)試儀的測(cè)試項(xiàng)目包括粉體的振實(shí)密度、松裝密度、安息角、抹刀角、崩潰角、差角、分散度、凝集度、流動(dòng)度等項(xiàng)目。它的特點(diǎn)是一機(jī)多用、操作簡(jiǎn)便、重復(fù)性好、測(cè)定條件容易改變、配套完整等。它的研制成功為粉體特性測(cè)試的普遍開(kāi)展提供了一個(gè)新的測(cè)試手段。該儀器主要用于大專院校、科研機(jī)構(gòu)的材料科學(xué)研究領(lǐng)域,在與粉體流動(dòng)特性相關(guān)的生產(chǎn)領(lǐng)域也將有廣泛的應(yīng)用前景。

  • 2013-05-10

    靜態(tài)激光粒度儀能譜是穩(wěn)定的空間分布。主要適用于微米級(jí)顆粒的的測(cè)試,經(jīng)過(guò)改進(jìn)也可將測(cè)量下限擴(kuò)展到幾十納米。動(dòng)態(tài)激光粒度儀根據(jù)顆粒布朗運(yùn)動(dòng)的快慢,通過(guò)檢測(cè)某一個(gè)或二個(gè)散射角的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)分析納米顆粒大小,能譜是隨時(shí)間高速變化。動(dòng)態(tài)光散射原理的粒度儀僅適用于納米級(jí)顆粒的測(cè)試。光透沉降儀通常所說(shuō)激光粒度分析儀是指衍射和散射原理的粒度儀,光透沉降儀,依據(jù)的原理是斯托克斯沉降定律而不是激光衍射/散射原理,因此這類儀器不能稱作激光粒度儀。

  • 2013-03-26

    在激光粒度儀中常常不把準(zhǔn)確性作為重點(diǎn),因?yàn)閷?duì)于大多粉體,本身就不存在真值,所以就談不上準(zhǔn)確性。而zui為重要的指標(biāo)是“重復(fù)性”,其次是分辨率。也就是說(shuō)對(duì)于一個(gè)分散良好的樣品,多次獨(dú)立測(cè)試,其測(cè)試結(jié)果的差別常稱為重復(fù)性。這一誤差是基礎(chǔ)誤差,這一誤差可以說(shuō)就是儀器的zui大分辨率。只有粉體的顆粒差別大于重復(fù)性誤差時(shí),才有可能測(cè)試出粉體的實(shí)際差別,可以理解為zui大分辨率。

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